納米科學技術學院Mario Lanza教授課題組在Nature Electronics上發表展望性文章

     日前,納米科學技術學院 Mario Lanza教授課題組在Nature Electronics上發表了題為“Scanning probe microscopy for advanced nanoelectronics的展望性論文,分析了掃描探針顯微鏡(SPM)在納米電子研究領域中的未來。文章一經公開便引起了業內專家的廣泛關注。

該論文的第一作者是惠飛博士,她是納米科學技術學院2018屆畢業博士生,目前正在以色列理工學院從事博士后研究。Lanza教授介紹說:“惠飛博士是我見過最熟練操作SPM的研究人員,她具有豐富的經驗,并有能力去調控實驗過程中的參數以獲得獨特的納米電子現象。我可以肯定地說,惠飛博士將會成為國內基于SPM納米電子表征領域最優秀的專家之一”。

目前,Lanza教授課題組正積極和不同的SPM制造商合作,以致力于提高和擴展SPM的功能和應用。在本文中,惠飛博士和Mario Lanza教授提出了一種新型的SPM設備,將不同類型/功能的納米探針相結合,可在真空環境中同時完成納米制備和納米表征。(如下圖)


        文章免費查看鏈接:https://rdcu.be/bG4oz

此外,Nature Electronics在一篇關于納米電子領域的尖端計量和儀器的社論中,對該文章進行了亮點報道(報道鏈接:https://www.nature.com/articles/s41928-019-0269-3)。

Mario Lanza教授長期從事SPM納米電子研究,他曾先后在英國、德國、美國、西班牙和中國開展了相關學習和工作,使用過20種在不同環境下工作的SPM設備,具有豐富的實驗經驗。2017年,受Wiley-VCH出版社邀請,他出版了題為Conductive Atomic Force Microscopy: Applications in Nanomaterials的專業論著,介紹了采用導電原子力顯微鏡(CAFM)作為重要的研究工具,在納米尺度對材料和器件的電學特性進行研究。

更多信息詳見Mario Lanza教授課題組網頁:https://lanzalab.com/

(納米科學技術學院)
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